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《化学分析计量》 2020年第01期
DOI:10.3969/j.issn.1008-6145.2020.01.001
中红外光谱透射比标准物质研制
冯国进,马宇轩,梁凤臣,甘海勇,郑春弟,吴厚平,张巧香,刘子龙
中国计量科学研究院,北京 100013 
Preparation of mid-infrared transmittance standard reference materials
FENG Guojin, MA Yuxuan, LIANG Fengchen, GAN Haiyong, ZHENG Chundi, WU Houping, ZHANG Qiaoxiang, LIU Zilong
National Institute of Metrology, Beijing 100013, China 
摘要:采用物化性质稳定的单晶硅作为基质,以直流磁控溅射方式轻蒸镀不同厚度的镍、铬混合膜层,实现了中红外波段(500~4000 cm-1)不同透射比标准物质的研制。研制的中红外光谱透射比标准物质其透射比标称值分别为10%和50%,扩展不确定度优于0.008(k=2)。该标准物质具有量值稳定、光谱平坦等特点,可用于各类傅里叶变换红外光谱设备的透射比校准。 
Abstract:Based on single crystal silicon substrate with stable physical and chemical properties, a series of transmittances in mid-infrared wave range of 500-4000 cm-1 were achieved by coated with different thicknesses of Ni and Cr mixed film layers. The nominal values of the developed reference materials were 10% and 50%, respectively, and the expand uncertainty was better than 0.008 (k=2). The reference material has the characteristics of stable value and flat spectrum, which can be used for the transmittance calibration of various Fourier transform infrared spectroscopy equipment. 
关键词:透射比;单晶硅;中红外光谱;标准物质 
Keywords:transmittance of material; single crystal silicon; mid-infrared spectroscopy; reference material 
基金:国家重点研发专项(2016YFF0200303) 
本文引用格式:
冯国进,马宇轩,梁凤臣,等. 中红外光谱透射比标准物质研制[J]. 化学分析计量,2020,29(1):1-3.
FENG G J,MA Y X,LIANG F C,et al. Preparation of mid-infrared transmittance standard reference materials[J]. Chemical analysis and meterage,2020,29(1):1-3. 

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