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《化学分析计量》 1996年第01期
DOI:
一种高纯有机物纯度的测定方法——熔点下降薄层比较法
贾瑞华,张大建
天津市计量技术研究所 300192 
贾瑞华,张大建
 
摘要:介绍了熔点下降薄层比较法的原理、计算方法和测量时需注意的问题。熔点下降薄层比较法测定纯度具有可靠的热力学基础,改进的Smit装置测温准确可靠,测定的纯度具有溯源性。 
关键词:熔点下降薄层比较法;高纯有机物;纯度;Smit装置 
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